ISO 16232顆粒物提取方法
顆粒是導(dǎo)致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損，需要對(duì)軸承組件進(jìn)行清潔度評(píng)估，以便評(píng)估并保證軸承的性能。IS0 16232規(guī)定了四種顆粒雜質(zhì)的提取方法。.
·搖動(dòng)法：向軸承組件注入已知量的溶劑，封口后搖動(dòng)，提取雜質(zhì)。
·加壓沖洗：使用試驗(yàn)液體加壓沖洗軸承，沖掉雜質(zhì)以便提取。
·超聲波技術(shù)：超聲波產(chǎn)生的微氣泡在顆粒附近聚爆。然后顆粒就會(huì)被排出，在提取液中收集顆粒。
·功能試驗(yàn)：模擬組件的運(yùn)行狀態(tài)，使用流動(dòng)的液體將雜質(zhì)從軸承表面分離，然后提取顆粒，見(jiàn)圖4。
不論選擇哪種提取方法，都要遵循…個(gè)共同的原則。IS0 16232介紹了一種有效的顆粒提取方法，如公式(1)與圖1所示。
Sn代表最后一次提取的顆粒數(shù)量，Si代表每次收集到的顆粒數(shù)量。也就是說(shuō)，直到最后一次的采樣值(Sn)小于等于總采樣值的1/10時(shí)才能停止提取。但是，如果6次提取之后仍不能滿足公式(1)，則提取參數(shù)無(wú)效，應(yīng)重新檢查。
必須要注意的是，圖中的空白值反映組件操作和測(cè)試引入的雜質(zhì)，該值也應(yīng)小于假定的用重量法測(cè)定的清潔度水平的10%，或小于相關(guān)尺寸顆粒的規(guī)定數(shù)量的10%。
然后，可以通過(guò)兒種方法來(lái)測(cè)定與分析提取的液體。根據(jù)ISO l6232，表1列出了幾種不同的分析方法。實(shí)際操作時(shí)可以根據(jù)對(duì)分析結(jié)果的要求選擇一種或多種方法。
表 顆粒分析方法匯總
| 方法 | 設(shè)備 | 參數(shù) | 結(jié)果 | 限制 |
| 重量評(píng)估 | 天平 | 總重量 | 清潔度水平，沒(méi)有單個(gè)顆粒的重量 | 環(huán)境條件(包括濕度等) |
| 光學(xué)顯微鏡 | 實(shí)驗(yàn)室手動(dòng)或自動(dòng)立體顯微鏡 | 顆粒分布（長(zhǎng)度、面積等） | 清潔度水平，包括顆粒數(shù)據(jù) | 顆粒數(shù)量不能過(guò)多，避免覆蓋 |
| 掃描電子顯微鏡 | 手動(dòng)或自動(dòng)掃描式電子顯微鏡 | 顆粒分布、顆粒類(lèi)型 | 清潔度水平，包括全面的顆粒尺寸和類(lèi)型數(shù)據(jù) | 顆粒數(shù)量不能過(guò)多，避免覆蓋 |
| 自動(dòng)消光 | 顆粒計(jì)數(shù)器 | 受限制顆粒分布（等效直徑） | 清潔度水平，包括顆粒數(shù)據(jù) | 顆粒介質(zhì)稀疏分布，避免覆蓋 |
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