顆粒是導致軸承故障的重要原因。為避免軸承意外受損，需要對軸承組件進行清潔度評估，以便評估并保證軸承的性能。IS0 16232規(guī)定了四種顆粒雜質(zhì)的提取方法。.

　　·搖動法：向軸承組件注入已知量的溶劑，封口后搖動，提取雜質(zhì)。

　　·加壓沖洗：使用試驗液體加壓沖洗軸承，沖掉雜質(zhì)以便提取。

　　·超聲波技術(shù)：超聲波產(chǎn)生的微氣泡在顆粒附近聚爆。然后顆粒就會被排出，在提取液中收集顆粒。

　　·功能試驗：模擬組件的運行狀態(tài)，使用流動的液體將雜質(zhì)從軸承表面分離，然后提取顆粒，見圖4。

　　不論選擇哪種提取方法，都要遵循…個共同的原則。IS0 16232介紹了一種有效的顆粒提取方法，如公式(1)與圖1所示。

　　Sn代表最后一次提取的顆粒數(shù)量，Si代表每次收集到的顆粒數(shù)量。也就是說，直到最后一次的采樣值(Sn)小于等于總采樣值的1/10時才能停止提取。但是，如果6次提取之后仍不能滿足公式(1)，則提取參數(shù)無效，應重新檢查。

　　必須要注意的是，圖中的空白值反映組件操作和測試引入的雜質(zhì)，該值也應小于假定的用重量法測定的清潔度水平的10%，或小于相關尺寸顆粒的規(guī)定數(shù)量的10%。

　　然后，可以通過兒種方法來測定與分析提取的液體。根據(jù)ISO l6232，表1列出了幾種不同的分析方法。實際操作時可以根據(jù)對分析結(jié)果的要求選擇一種或多種方法。

表 顆粒分析方法匯總

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